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    1. 高精度數字源表+探針臺—打造微電子器件材料測試系統

      發布時間:2024-1-19 14:37    發布者:whpssins
      關鍵詞: 高精度源表 , 數字源表 , 微電子測試系統
      半導體材料和器件的研究中,電性能測試是必不可少的環節。隨著半導體技術的提升,微電子工藝逐漸復雜,如何對微電子材料器件進行高效率測試成為業內關注的重點。普賽斯儀表陸續推出多型號國產化數字源表SMU,為進一步打通測試融合壁壘,打造閉環解決方案,通過對半導體高端測試裝備上下游產業鏈的垂直整合,晶圓級微電子材料器件測試系統應運而生!
      普賽斯數字源表SMU是整個測試系統的核心部分,用戶可以根據材料器件不同的電流、電壓,配置不同規格參數的源表和探針臺。
      更高效:靈活測試:
      體積小巧,節省實驗臺空間
      接線簡單,無需繁雜的同步觸發操作
      適應多種測量模式,如四探針、三同軸等
      更可靠:廣泛應用:
      利用普賽斯這套國產化高精度數字源表+探針臺的測試系統,可以為您完成任何晶圓、芯片、微小電子器件的測試。


      目前,普賽斯已擁有涵蓋直流源表、脈沖源表、窄脈沖源、大電流脈沖源、高電流源、高電壓源、大功率激光器測試電源、插卡式源表、數據采集卡、脈沖恒壓源等完整的國產化數字源表解決方案,可為不同領域、不同需求的用戶提供全方位的測試支持,打造高效、靈活的微電子材料器件測試系統!



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